Докладчик
Описание
Рентгенофлуоресцентный метод измерений толщины металлических покрытий является одним из самых востребованных неразрушающих методов в связи с развитием высокотехнологичного сектора машиностроения, приборостроения и электроники. В виду ограничения данного метода в части использования справочного значения плотности материалов покрытий при определении толщины металлических покрытий остро стояла задача разработки методических подходов для определения плотности материалов нанесенных покрытий. Авторами предложена физико-математическая модель измерений плотности материалов покрытий, которая была подтверждена экспериментальными исследованиями моделей покрытий и легла в основу разработанной методики количественного определения плотности покрытий для измерений толщины покрытий рентгенофлуоресцентным методом.
| Секция | Молодежная секция |
|---|---|
| Научный руководитель | к.ф.-м.н., Тюрнина Анастасия Евгеньевна, turninaae@uniim.ru, Уральский научно-исследовательский институт метрологии — филиал ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева», г. Екатеринбург |
