13–14 мар. 2024 г.
Международный выставочный центр «Екатеринбург-Экспо»
Часовой пояс: Asia/Yekaterinburg

Технологии автоматической градуировки и поверки двухпараметровых вихретоковых толщиномеров диэлектрических покрытий

13 мар. 2024 г., 15:34
11м
Устный доклад (очный) Основная секция. Устные доклады.

Докладчик

СЯСЬКО, Михаил Владимирович

Описание

Для измерения толщины диэлектрического покрытия на немагнитном металлическом основании применяется амплитудный метод вихретокового вида неразрушающего контроля. На результаты измерений оказывают влияние мешающие параметры, в частности удельная электрическая проводимость основания. Для проведения измерения с учетом удельной электрической проводимости разработан метод двухпараметровой обработки сигналов амплитудно-фазового вихретокового преобразователя.

Секция Основная секция

Основной автор

СЯСЬКО, Михаил Владимирович

Материалы